Анализ дефектов стекла
GS предлагает анализ дефектов в стекле и исследования источников происхождения пузырьков, которые включают:
- Анализ дефектов — пузырьки и мошка; камни, свили и другие дефекты, такие как шлиры, узлы, поверхностные дефекты
- Процедура идентификации источника пузырьков
- Классификация источников по механизму генерации пузырьков
- Характеристики пузырьков и расчетный состав в продукте; идентификация
Наша лаборатория оснащена новейшими технологиями, в том числе тремя масс-спектрометрами, микро-зондом SEM/EDX, различными оптическими микроскопами и очень точным оборудованием для подготовки проб для решения любой проблемы с плавлением, осветлением и формированием дефектов в любом виде изделия из стекла.
Это крупнейшая в мире независимая лаборатория дефектов стекла.
Экспресс-доставка результатов - 24 часа с точки зрения срочности
В прошлом году SGD провела интенсивные расследования с анализом дефектов пузыря и источников его происхождения на одной из наших печей.
Мы провели статистический анализ, который помог нам лучше понять появление двух типов пузырьков.
Мы определили две основные причины и определили действия по уменьшению таких дефектов при их возникновении.
Доступный анализ дефектов GS с их высоким качеством и быстрым ответом имеет жизненно важное значение для поддержания высокой производительности в нашем высококачественном производстве.
Пример: анализ пузырьков
На графике показан анализ определенного пузыря.
Типичные анализируемые газы: O2, N2, CO2, SO2, Ar, H, COS, H2S, CO, H2, (H2O)
Из состава газов в пузырьке, но также от его размера, распределения в продукте, интенсивности и внутреннего давления газов, можно определить возможный источник такого дефекта. Эксплуатационная информация о печи и ее конструкции также может быть более конкретной в идентификации источника пузырьков.
Пример: пузырь, содержащий селен
Картина, обычная проходящая сквозь свет, показывает пузырь, содержащий селен.
Некоторые пузырьки содержат также отложения, такие как селен или сера. Важно проанализировать эти твердые включения, которые, опять же, помогают более точно идентифицировать возможный источник пузырьков.
Пример: камень из плавлено-литого огнеупора AZS
На этом изображении из электронного микроскопа изображен участок камня, изготовленный из плавлено-литого огнеупора AZS. В этом камне сохраняется типичная структура материала AZS с плавленым литьем — первичные зерна циркония, первичные табличные кристаллы корунда и очень мелкие столбчатые кристаллы циркония, выращенные внутри корунда.
Пример: Хромитовый камень
На этом рисунке показана секция хромитового камня, видимая под оптическим микроскопом в боковом свете и передаваемом поляризованном свете. Остаток исходной частицы хромита окружен планкой вторичного зеленоватого светоотражающего эсколата.
Пример: Свиль
На этом рисунке показано поперечное сечение шнура с напряжением, просматриваемым под оптическим микроскопом в передаваемом поляризованном свете.
Пример: Галл
Эта картина представляет собой часть длинного эллиптического включения, рассматриваемого под оптическим микроскопом в передаваемом поляризованном свете. Дефект присутствует в виде блистера, заполненного конденсированными сульфатами.
Пример: узел
Это пример гетерогенного узла с напряжением, наблюдаемым под оптическим микроскопом в передаваемом поляризованном свете.
Пример: Поверхностный дефект
На этом рисунке показана часть коричневатого дефекта, связанного с оловянной ванной, найденного на нижней поверхности листа флоат-стекла. Поверхностный дефект просматривается под оптическим микроскопом в проходящем свете.
Дальнейшая информация:
-
Пожалуйста, свяжитесь с нами, чтобы получить дополнительную информацию, нашу последнюю презентацию или коммерческое предложение на поставку.